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1 - 3 共 3 條結(jié)果
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48 種元素的檢測限都達(dá)到了個位數(shù) ppt 級或在亞 ppt 范圍內(nèi)，表明 7700s/7900 能夠?qū)哿课廴疚镞M(jìn)行常規(guī)測量。
| 文件出版號 | 5990-7914EN | ||
|---|---|---|---|
| 分析 | 分析采用的部件號. |
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| 儀器 |
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| 分析技術(shù) | 技術(shù) |
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| 進(jìn)樣 |
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| 檢測 |
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| 樣品 | 化學(xué)基團(tuán) |
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| 樣品基質(zhì) |
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| 英語 (美國) | 完整版（PDF） |
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展示了 Agilent 7700s/7900 ICP-MS 在直接測定高純度鹽酸 (HCl) 中金屬雜質(zhì)方面的卓越分析性能與穩(wěn)定性。
| 文件出版號 | 5990-7354EN | ||
|---|---|---|---|
| 分析 | 分析采用的部件號. |
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| 儀器 |
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| 分析技術(shù) | 技術(shù) |
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| 進(jìn)樣 |
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| 檢測 |
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| 樣品 | 化學(xué)基團(tuán) |
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| 樣品基質(zhì) |
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| 英語 (美國) | 完整版（PDF） |
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Basic Performance of the Agilent 7700s ICP-MS for the Analysis of Semiconductor Samples
| 文件出版號 | 5990-6195EN | ||
|---|---|---|---|
| 分析 | 分析采用的部件號. |
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| 儀器 |
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| 分析技術(shù) | 技術(shù) |
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| 進(jìn)樣 |
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| 檢測 |
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| 樣品 | 化學(xué)基團(tuán) |
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| 樣品基質(zhì) |
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