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本文采用 Agilent 1290 Infinity II LC/6546 Q-TOF MS 系統(tǒng)對半導體光刻膠浸出實驗中的光致產(chǎn)酸劑浸出成分進行定性與定量分析,分析效率高,且結果準確?;诓町惙治隽鞒?,采用 Mass ProFinder 軟件可快速挖掘不同組別樣品中的差異物。
- 文件出版號: 5994-5642ZHCN
- 創(chuàng)建日期: 04 四月 2023
- 2 MB
英語 (美國) | 完整版(PDF) |
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本研究介紹了一種用于測定高純?nèi)谆X樣品中的痕量雜質(zhì)元素的方法,該方法靈敏度高,重現(xiàn)性好,適合不同基體通量檢測,可滿足半導體行業(yè)三甲基鋁材料中雜質(zhì)元素分析的需求。
- 文件出版號: 5994-5876ZHCN
- 創(chuàng)建日期: 29 三月 2023
- 329 KB
在本研究中,Agilent 8900 ICP-MS/MS 用于分析硫酸中的 42 種分析物,包括 Ti 和其他元素,這些元素難以在高硫基質(zhì)中以痕量水平測定。
- 文件出版號: 5991-7008ZHCN
- 創(chuàng)建日期: 20 三月 2019
- 390 KB
英語 (美國) | 完整版(PDF) |
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Instructions for use and technical specifications for the 571 Ionization Gauge Tube
- 文件出版號: 699905571 (E.00)
- 創(chuàng)建日期: 02 三月 2023
- 2 MB
Dry scroll pumps are ideal for a wide range of laboratory applications.
- 創(chuàng)建日期: 18 一月 2023
- 262 KB
Instructions for use and technical specifications for VS Series Component Leak Detector
- 文件出版號: 699909948 (E)
- 創(chuàng)建日期: 13 十月 2022
- 7 MB
Instructions for use for the Turbo-V Vibration Dampers
- 文件出版號: 87-900-814-01 (E.00)
- 創(chuàng)建日期: 06 七月 2022
- 1 MB
Instructions for use and technical specifications for the 572 Ionization Gauge Tube
- 文件出版號: 699905572 (D.00)
- 創(chuàng)建日期: 12 四月 2022
- 3 MB
Instructions for use and technical specifications for 564 Ionization Gauge Tube
- 文件出版號: K2500301, K2500302, K2500303, K2500304, K2500310, K2500311
- 創(chuàng)建日期: 12 四月 2022
- 3 MB
Instructions for use and technical specifications for the 563 Ionization Gauge Tube
- 文件出版號: 699905563 (C.00)
- 創(chuàng)建日期: 12 四月 2022
- 3 MB
Instructions for use and technical specifications for Wireless Remote Model G8600-60002 for Agilent Helium Leak Detection (G8610, G8611, or G8612) or for VS Series Leak Detector
- 文件出版號: 699909945 (E)
- 創(chuàng)建日期: 08 九月 2021
- 1 MB
Instructions for use and technical specifications for the MS40+ Single Stage Rotary Vane Pump
- 文件出版號: 87-901-008-01 (H.00)
- 創(chuàng)建日期: 12 四月 2021
- 2 MB
Instructions for use and technical specifications for the Power Probe
- 文件出版號: 699909560 (D)
- 創(chuàng)建日期: 12 二月 2021
- 236 KB
Understanding Minimum Detectable Leak
- 文件出版號: 5994-2193EN
- 創(chuàng)建日期: 09 七月 2020
- 132 KB
Managing helium background to differentiate the helium from a leak from the helium already present in the atmosphere is critical to the leak testing process.
- 創(chuàng)建日期: 04 六月 2020
- 384 KB
I/O Board for VS Series and G8610, G8611 or G8612 Series Leak Detectors (VSFLDIO)
- 文件出版號: 699910001 (B)
- 創(chuàng)建日期: 08 十月 2019
- 2 MB
Instructions for use for Calibrated Leak Replacement for VS C15, VS, and (G8610, G8611, or G8612) Series Leak Detectors
- 文件出版號: 699909998 (C)
- 創(chuàng)建日期: 08 十月 2019
- 2 MB
Instructions for use and technical specifications for Ion Source Replacement for He Leak Detection G8610, G8611 or G8612 or for VS Series Leak Detector
- 文件出版號: 699910005 (B)
- 創(chuàng)建日期: 08 十月 2019
- 2 MB
Instructions for use for VS PD03 and G8610 Scroll Pump and Components Replacement
- 文件出版號: 699910017 (B)
- 創(chuàng)建日期: 08 十月 2019
- 3 MB