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應用的篩選條件
創(chuàng)新技術和新版 MassHunter 軟件平臺相結合,使 Agilent 7900 成為更強大、自動化程度更高的四極桿 ICP-MS
- 文件出版號: 5991-3719ZHCN
- 創(chuàng)建日期: 02 五月 2024
- 1 MB
Agilent 280 原子吸收系列具有高效、易用和極其可靠的特性。該系列產品采用高性能指標的光學系統(tǒng),具有適用于任何分析所需要的高性能,同樣適用于重視可靠性和易用性的常規(guī)實驗室。
- 文件出版號: 5991-6048ZHCN
- 創(chuàng)建日期: 18 五月 2020
- 2 MB
Agilent 5100 ICP-OES 徹底變革了 ICP-OES 分析。5100 SVDV 擁有獨特的智能光譜組合
- 文件出版號: 5991-4853CHCN
- 創(chuàng)建日期: 01 五月 2016
- 306 KB
Agilent 5110 同步垂直雙向觀測 (SVDV)ICP-OES 將速度與分析性能完美結合,使您魚與熊掌兼得。
- 文件出版號: 5991-6855ZHCN
- 創(chuàng)建日期: 01 五月 2016
- 805 KB
意大利語 (意大利) | 完整版(PDF) |
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Agilent 4200 微波等離子體原子發(fā)射光譜儀--因空氣而改變
- 文件出版號: 5991-3696ZHCN
- 創(chuàng)建日期: 01 七月 2015
- 3 MB
Agilent 240 系列 AA 系統(tǒng) 安捷倫原子吸收光譜儀,240FS AA,Fast Sequential, 快速序列,
- 文件出版號: 5991-6047ZHCN
- 創(chuàng)建日期: 01 六月 2015
- 2 MB
安捷倫7800 四極柱ICP-MS 以解決方案就緒的ICP-MS搭起金屬分析的快速通道
- 文件出版號: 5991-5874CHTW
- 創(chuàng)建日期: 27 五月 2015
- 1 MB
英語 (美國) | 完整版(PDF) |
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實現(xiàn)可靠的礦物分析——安捷倫是地球化學、采礦和金屬行業(yè)元素分析的公認領導者
- 文件出版號: 5991-0686ZHCN
- 創(chuàng)建日期: 18 七月 2014
- 1 MB
Agilent 5100 同步垂直雙向觀測 (SVDV) ICP-OES 顛覆了傳統(tǒng)雙向觀測 ICP-OES概念。5100 SVDV ICP-OES 憑借獨特的智能光譜組合技術 (DSC) 一次測量完成水平和垂直信號的同步采集讀取,實現(xiàn)高速高效的樣品分析,確保復雜基質樣品的分析準確度。
- 創(chuàng)建日期: 03 七月 2014
- 995 KB
安捷倫 OneNeb 霧化器——更高的靈敏度,極低的堵塞率
- 文件出版號: 5991-0131CHCN
- 創(chuàng)建日期: 10 四月 2012
- 3 MB
5000 series ICP-OES supplies reference guide
- 文件出版號: 5991-4950EN
- 創(chuàng)建日期: 01 十月 2024
- 313 KB
Laboratory setup and configuration requirements
- 文件出版號: 8510119300
- 創(chuàng)建日期: 23 五月 2022
- 974 KB
High sensitivity, sub ppb detection limits and is faster than conventional flame atomic absorption. Best of all, the 4210 MP-AES runs on air.
- 文件出版號: 5991-7247EN
- 創(chuàng)建日期: 22 八月 2017
- 1 MB
A programming toolkit that allows remote, automated elemental analysis using the safe, simple to use MP-AES instrument.
- 文件出版號: 5991-7281EN
- 創(chuàng)建日期: 22 八月 2017
- 636 KB
Learn how our Fast Sequential mode increases productivity by 60% - saving not only time but also slashing the cost of gas.
- 創(chuàng)建日期: 03 四月 2017
- 504 KB
The Al, B, Co, Cr, Mo, Ti, V and Zr content of samples was determined using microwave plasma atomic emission spectroscopy without neutralization of the HF digests
- 創(chuàng)建日期: 03 三月 2017
- 579 KB
Analysis of Ni alloy certified reference material by MP-AES
- 文件出版號: 5991-7283EN
- 創(chuàng)建日期: 01 九月 2016
- 616 KB
Technical overview for Optimization of method conditions for high matrix samples using the Agilent 4210 MP-AES
- 創(chuàng)建日期: 01 九月 2016
- 700 KB