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1 - 20 共 49 條結(jié)果

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安捷倫LCMS在半導(dǎo)體及新材料的解決方案

安捷倫LCMS在半導(dǎo)體及新材料的解決方案

手冊(cè)
7900 ICP-MS 產(chǎn)品樣本 (PDF)

創(chuàng)新技術(shù)和新版 MassHunter 軟件平臺(tái)相結(jié)合，使 Agilent 7900 成為更強(qiáng)大、自動(dòng)化程度更高的四極桿 ICP-MS

  • 文件出版號(hào): 5991-3719ZHCN
  • 創(chuàng)建日期: 02 五月 2024
  • 1 MB
  • PDF
意大利語(yǔ) (意大利) 完整版（PDF）
德語(yǔ) (德國(guó)) 完整版（PDF）
應(yīng)用
使用 ICP-OES 測(cè)定電池級(jí)硫酸錳中的雜質(zhì)元素 (PDF)

本文介紹了一種使用 ICP-OES 準(zhǔn)確測(cè)定電池級(jí)硫酸錳中雜質(zhì)元素的方法。該方法具有出色的檢測(cè)限、準(zhǔn)確度和穩(wěn)定性，滿足雜質(zhì)元素的分析要求，且分析速度和效率優(yōu)于傳統(tǒng)分析方法。

  • 文件出版號(hào): 5994-5543ZHCN
  • 創(chuàng)建日期: 12 十二月 2022
  • 553 KB
  • PDF
手冊(cè)
安捷倫樣品瓶與樣品存儲(chǔ)解決方案 (PDF)

安捷倫幫助您輕松快速找到最佳樣品瓶及樣品存儲(chǔ)解決方案，并實(shí)現(xiàn)您的分析目標(biāo)

  • 文件出版號(hào): 5990-9022ZHCN
  • 創(chuàng)建日期: 18 二月 2017
  • 3 MB
  • PDF
葡萄牙語(yǔ) (巴西) 完整版（PDF）
葡萄牙語(yǔ) (巴西) 完整版（PDF）
意大利語(yǔ) (意大利) 完整版（PDF）
德語(yǔ) (德國(guó)) 完整版（PDF）
俄語(yǔ) (俄羅斯) 完整版（PDF）
技術(shù)概述
同步垂直雙向觀測(cè) (SVDV) —超快的分析速度和卓越的分析性能 (PDF)

Agilent 5100 ICP-OES 徹底變革了 ICP-OES 分析。5100 SVDV 擁有獨(dú)特的智能光譜組合

  • 文件出版號(hào): 5991-4853CHCN
  • 創(chuàng)建日期: 01 五月 2016
  • 306 KB
  • PDF
在線研討會(huì)
分子光譜基礎(chǔ)知識(shí)：硬件 (PDF)

分子光譜培訓(xùn)講座 — 硬件。

  • 文件出版號(hào): 5991-6592CHCN
  • 創(chuàng)建日期: 07 三月 2016
  • 3 MB
  • PDF
手冊(cè)
訂購(gòu)功能讓一切更簡(jiǎn)單 (PDF)

無(wú)論何時(shí)訪問安捷倫在線商店，您都能夠輕松體驗(yàn)方便快捷的訂購(gòu)功能。5步教程

  • 文件出版號(hào): 5991-5742ZHCN
  • 創(chuàng)建日期: 17 四月 2015
  • 711 KB
  • PDF
技術(shù)概述
垂直炬管的優(yōu)勢(shì) — 快速提供準(zhǔn)確結(jié)果，輕松應(yīng)對(duì)復(fù)雜樣品 (PDF)

了解垂直炬管的優(yōu)勢(shì) — 快速提供準(zhǔn)確結(jié)果，輕松應(yīng)對(duì)復(fù)雜樣品

  • 文件出版號(hào): 5991-4854CHCN
  • 創(chuàng)建日期: 21 十月 2014
  • 418 KB
  • PDF
應(yīng)用
使用微型 ATR FTIR 成像系統(tǒng)在電子和半導(dǎo)體行業(yè)中進(jìn)行無(wú)損故障/缺陷分析 (PDF)

使用微型 ATR FTIR 成像系統(tǒng)在電子和半導(dǎo)體行業(yè)中進(jìn)行無(wú)損故障/缺陷分析應(yīng)用簡(jiǎn)報(bào)

  • 文件出版號(hào): 5991-5223CHCN
  • 創(chuàng)建日期: 07 十月 2014
  • 428 KB
  • PDF
英語(yǔ) (美國(guó)) 完整版（PDF）
宣傳單頁(yè)
5100 ICP-OES 彩頁(yè) (PDF)

Agilent 5100 同步垂直雙向觀測(cè) (SVDV) ICP-OES 顛覆了傳統(tǒng)雙向觀測(cè) ICP-OES概念。5100 SVDV ICP-OES 憑借獨(dú)特的智能光譜組合技術(shù) (DSC) 一次測(cè)量完成水平和垂直信號(hào)的同步采集讀取，實(shí)現(xiàn)高速高效的樣品分析，確保復(fù)雜基質(zhì)樣品的分析準(zhǔn)確度。

  • 創(chuàng)建日期: 03 七月 2014
  • 995 KB
  • PDF
應(yīng)用
解決氣相柱QC 測(cè)試中所關(guān)注的問題 (PDF)

解決氣相柱QC 測(cè)試中所關(guān)注的問題

  • 文件出版號(hào): 5990-9961CHCN
  • 創(chuàng)建日期: 05 三月 2012
  • 647 KB
  • PDF
文件出版號(hào) 5990-9961EN
分析 分析采用的部件號(hào).
DB-35ms Ultra Inert
DB-5ms Ultra Inert
HP-1ms Ultra Inert
HP-5ms Ultra Inert
儀器
---
分析技術(shù) 技術(shù)
GC
進(jìn)樣
split/splitless
檢測(cè)
FID
樣品 化學(xué)基團(tuán)
acids
alkanes
hydrocarbons
樣品基質(zhì)
test mixture
手冊(cè)
Agilent 7696A 樣品制備工作臺(tái)產(chǎn)品簡(jiǎn)介 (PDF)

  • 文件出版號(hào): 5990-6908CHCN
  • 創(chuàng)建日期: 28 一月 2011
  • 1 MB
  • PDF
7900 ICP-MS 視頻

Raise your expectations - Agilent'snew 7900 ICP-MS redefines ICP-MS performance

  • 播放時(shí)長(zhǎng): 00:02:40
  • 創(chuàng)建日期: 17 十二月 2013
用戶手冊(cè)
AA Systems Site Preparation Guide (PDF)

Laboratory setup and configuration requirements

  • 文件出版號(hào): 8510119300
  • 創(chuàng)建日期: 23 五月 2022
  • 974 KB
  • PDF
應(yīng)用
Performance of Compact Visual Displays — Measuring Angular Reflectance of Optically Active Materials Using the Agilent Cary 7000 Universal Measurement Spectrophotometer (UMS) (PDF)

Application note for Performance of compact visual displays — measuring angular reflectance of optically active materials using the Agilent Cary 7000 Universal Measurement Spe

  • 文件出版號(hào): 5991-2508EN
  • 創(chuàng)建日期: 10 五月 2021
  • 370 KB
  • PDF
韓語(yǔ) (朝鮮) 完整版（PDF）
日語(yǔ) (日本) 完整版（PDF）
基礎(chǔ)導(dǎo)論
Atomic Spectroscopy Solutions for the Semi-conductor industry (PDF)

A guide to measuring trace elements and metal contaminants in semiconductor fabrication

  • 文件出版號(hào): 5994-1841EN
  • 創(chuàng)建日期: 12 八月 2020
  • 2 MB
  • PDF
案例研究
Technical Overview and Performance Capability of the Agilent 7900s (PDF)

Learn the reasons why the Agilent 7900s single quadrupole ICP-MS is ideal for measuring contaminants in semiconductor manufacturing chemicals

  • 文件出版號(hào): 5994-1840EN
  • 創(chuàng)建日期: 29 七月 2020
  • 356 KB
  • PDF
在線研討會(huì)
Fundamentals of Atomic Spectroscopy: Hardware (PDF)

Atomic spectroscopy training presentation - hardware.

  • 文件出版號(hào): 5991-6593EN
  • 創(chuàng)建日期: 07 三月 2016
  • 2 MB
  • PDF
技術(shù)概述
Synchronous Vertical Dual View (SVDV) for superior speed and performance (PDF)

The Agilent 5100 Synchronous Vertical Dual (SVDV) revolutionizes ICP-OES analysis. Learn how SVDV works with unique Dichroic Spectral combiner technology.

  • 創(chuàng)建日期: 06 十一月 2015
  • 575 KB
  • PDF
技術(shù)概述
Fitted Background Correction (FBC)— fast, accurate and fully-automated background correction (Agilent 5100 ICP-OES) (PDF)

Agilent’s Fitted Background Correction (FBC) takes the guesswork out of background correction. No matter what your sample challenge may be.

  • 創(chuàng)建日期: 06 十一月 2015
  • 409 KB
  • PDF

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